题名:
半导体测量和仪器
ban dao ti ce liang he yi qi / (美)鲁尼安编著 ,
语种:
chi
载体形态:
322页 20cm
出版发行:
出版地： 上海 出版社：
上海科学技术出版社
出版日期： 1980
内容提要:
本书主要内容：本书着重介绍了半导体材料测试的原理和设备。
主题词:
半导体材料
测试
中图分类法:
TN307 版次： 4
主要责任者:
鲁尼安
lu ni an 编著