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题名:
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半导体测量和仪器 ban dao ti ce liang he yi qi / (美)鲁尼安(W.R.Runyan)编著 , 上海科技大学半导体材料教研室译 |
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ISBN:
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价格： CNY1.15 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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322页 20cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： 1980 |
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内容提要:
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本书主要内容有晶体缺陷及其观察、电阻率及载流子浓度的测量、寿命…… |
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主题词:
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半导体器件 测试 |
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主题词:
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半导体材料 测试 |
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中图分类法:
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TN307 版次： 4 |
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主要责任者:
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鲁尼安 lu ni an 编著 |
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主要责任者:
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W.R.Runyan w.r.runyan 编著 |
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附注:
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书名原文:Semiconductor measurements and instrumentation |
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主要团体责任者:
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上海科技大学半导体材料教研室 shang hai ke ji da xue ban dao ti cai liao jiao yan shi 译 |