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题名:
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半导体器件的可靠性 ban dao ti qi jian de ke kao xing / 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 , |
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ISBN:
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价格： CNY1.15 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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173页 40cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学技术文献出版社重庆分社 出版日期： 1977.8 |
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内容提要:
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本书以实际例子介绍了半导体器件的可靠性。 |
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主题词:
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半导体 |
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中图分类法:
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TN306 版次： 4 |
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主要团体责任者:
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中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 zhong guo ke xue ji shu qing bao yan jiu suo chong qing fen suo bian ji |