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题名:
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国外集成电路测试自动化 guo wai ji cheng dian lu ce shi zi dong hua / 上海科学技术情报研究所编辑 , |
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ISBN:
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价格： CNY0.60 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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74页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术情报研究所 出版日期： 1977.9 |
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内容提要:
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本书主要内容有国外半导体器件测试自动化概况、全自动探针台、半导体器件自动测试分选装置等 |
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主题词:
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自动测试设备 |
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主题词:
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集成电路工艺 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 4 |
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附注:
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半导体器件生产自动化专辑 |
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主要团体责任者:
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上海科学技术情报研究所 shang hai ke xue ji shu qing bao yan jiu suo 编辑 |