题名:
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集成电路测试原理 [ 专著] ji cheng dian lu ce shi yuan li / 戴志坚,王厚军主编 , |
ISBN:
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978-7-5770-0163-0 价格: CNY68.00 |
语种:
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chi |
载体形态:
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204页 图 26cm |
出版发行:
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出版地: 成都 出版社: 电子科技大学出版社 出版日期: 2023 |
内容提要:
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本书共六章,内容包括:集成电路测试技术概述,直流参数及模拟集成电路测试,数字集成电路测试,混合信号集成电路测试,ATE系统和DIB设计,测试应用开发。 |
主题词:
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集成电路 电路测试 |
中图分类法:
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TN407 版次: 5 |
主要责任者:
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戴志坚 dai zhi jian 主编 |
主要责任者:
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王厚军 wang hou jun 主编 |
附注:
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本科规划教材 |