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题名:
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集成电路测试原理 [ 专著] ji cheng dian lu ce shi yuan li / 戴志坚，王厚军主编 , |
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ISBN:
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978-7-5770-0163-0 价格： CNY68.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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204页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 成都 出版社： 电子科技大学出版社 出版日期： 2023 |
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内容提要:
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本书共六章，内容包括：集成电路测试技术概述，直流参数及模拟集成电路测试，数字集成电路测试，混合信号集成电路测试，ATE系统和DIB设计，测试应用开发。 |
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主题词:
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集成电路 电路测试 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 5 |
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主要责任者:
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戴志坚 dai zhi jian 主编 |
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主要责任者:
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王厚军 wang hou jun 主编 |
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附注:
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本科规划教材 |