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题名:
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半导体的检测与分析 / 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著 , |
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ISBN:
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价格： ￥3.70 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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636页 19cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 1984 |
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主题词:
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半导体材料 检测 |
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中图分类法:
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TN304.07 版次： 3 |
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主要团体责任者:
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中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室 著 |
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索书号:
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TN304.07/9722 |