题名:
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半导体的检测与分析 / 中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室著 , |
ISBN:
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价格: ¥3.70 |
语种:
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chi |
载体形态:
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636页 19cm |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 科学出版社 出版日期: 1984 |
主题词:
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半导体材料 检测 |
中图分类法:
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TN304.07 版次: 3 |
主要团体责任者:
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中国科学院半导体研究所理化分析中心研究室 著 |
索书号:
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TN304.07/9722 |