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题名:
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半导体物理实验 [ 专著] ban dao ti wu li shi yan / 李志彬，陈新安主编 , |
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ISBN:
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978-7-5647-2907-3 价格： CNY22.60 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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116页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 成都 出版社： 电子科技大学出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书共包括实验项目18个，其中10个为半导体物理实验，8个为半导体器件实验。主要包括：四探针法测量电阻率；P-N导电类型鉴别；椭圆偏振光谱法测量单晶硅的光学常数；激光测定单晶硅的晶向等。 |
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主题词:
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半导体器件 半导体物理 |
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中图分类法:
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TN303-33 版次： 5 |
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主要责任者:
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李志彬 li zhi bin 主编 |
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主要责任者:
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陈新安 chen xin an 主编 |